新產品BM微量分析天平上市

日本AND公司新產品BM 自動微量分析天平追求高精度計量：最高精度可達2500萬分之一，采用無風電離器和導電涂層的防風玻璃，解決靜電產生的問題。BM是一款穩定性高的微量分析天平，精度可達0.001mg，穩定時間約8S。

日本AND 超微量分析天平BM系列是一種高精度的微量分析天平，它可以測量最小顯示精度為1微克（μg）的樣品重量。它具有以下特點：日本進口，所有部件均由A&D精密打造。采用后置式長力臂電磁傳感器，內部分辨率為1/25,000,000。

內藏校準砝碼，僅需按一下校準專用鍵（CAL）即可自動完成。全天候自動自我校準系統（Automatic Self Calibration）。配置不容易受風影響的網格狀稱盤。

BM-22超微量分析天平操作性良好的稱量室空間，稱量臺雙環設計，無需兩層防風罩。標配無風靜電消除器，采用導電涂層的防風玻璃罩，輕松解決靜電影響。自動環境偵測，自動/手動調整三段FAST MID SLOW 反應速度。具有百分比（Pct）功能，適用于重量檢測或配方檢測。

高精度計數功能，自動計算零件單重，配合ACAL (自動精度提高)功能，自動提高計量的精確度。重量檢測功能（Comparator Function）.輸出結果以 HI OK LO 燈號表示，并可通過選配件實現紅綠燈和聲音報警輸出。具有使用量程的百分比顯示（Capacity Indicator）。

具有時間與日期輸入功能，配合打印機和電腦的輸入與打印。超大記憶體?？蓛Υ?span>200組稱重數據。

兩種通信方式 標配RS-232C和USB接口，天平可同時連接：“電腦與打印機"、“電腦和數據記錄器"、“電腦和外部顯示器"兩種不同輸出設備。

由于日本AND的BM-22電子天平具有如此高的精度和功能，它可以應用于以下場景：

元素分析/煙塵分析/環境測定/生化相關實驗/微量分析測量。這些場景需要對極微量的樣品進行準確和快速的稱重，并且要避免靜電和風力等干擾因素。

藥物制劑/化學合成/材料科學/納米技術等領域。這些領域需要對復雜的配方進行精確的控制，并且要求天平具有高度的穩定性和可靠性。

質量控制/檢測/認證等領域。這些領域需要對產品的重量或比重進行嚴格的檢測，并且要求天平具有高度的靈敏度和反應速度。

BM系列微量分析天平規格如下：