GH-200日本AND分析天平有單鍵自動外校，操作簡單方便，可輸入修正后的校準砝碼值,確保校準精度。

CH-300日本AND分析天平主要應用于化工、藥業、院校等實驗研究等。多種稱重單位：g,mg,oz,ozt,ct,dwt,GN,tl等稱重單位及記數，百分比功能，適應不同計量標準及應用要求。

GH-202日本AND分析天平具有內部校準砝碼,單鍵自動自校準；自動溫度檢測功能,當環境溫度變化時自動自校準,校準方便快捷,確保計量精度。

GH-252日本AND分析天平精度為 0.01mg/0.1mg雙量程專業型分析天平 ,內置自動校準砝碼，單鍵全自動校準，能自動環境修正,標準計算機接口，自帶日歷功能,符合GLP及GMP標準。

日本AND分析天平BM-5D追求高精度計量：最高精度可達2500萬分之一，采用無風電離器和導電涂層的防風玻璃，解決靜電產生的問題。BM-5D是雙量程微量分析天平，精度可達0.001mg，重復性0.004mg，穩定時間約10S。

超微量分析天平BM-5追求高精度計量：最高精度可達2500萬分之一，采用無風電離器和導電涂層的防風玻璃，解決靜電產生的問題。BM-5是微量分析天平，精度可達0.001mg，重復性0.0012mg，穩定時間約10S。

日本AND微量分析天平BM-20追求高精度計量：最高精度可達2500萬分之一，采用無風電離器和導電涂層的防風玻璃，解決靜電產生的問題。BM-20是高精度微量分析天平，精度可達0.001mg，重復性0.0025mg，穩定時間約10S。

日本AND自動微量分析天平BM-22追求高精度計量：最高精度可達2500萬分之一，采用無風電離器和導電涂層的防風玻璃，解決靜電產生的問題。BM-22是雙量程微量分析天平，精度可達0.001mg，重復性0.004mg，穩定時間約10S。

日本AND分析天平追求高精度計量：最高精度可達2500萬分之一，采用無風電離器和導電涂層的防風玻璃，解決靜電產生的問題。BM-22是雙量程微量分析天平，精度可達0.001mg，重復性0.004mg，穩定時間約10S。

BM 自動超微量分析天平追求高精度計量：最高精度可達2500萬分之一，采用無風電離器和導電涂層的防風玻璃，解決靜電產生的問題。BM-20是微量分析天平，精度可達0.001mg，重復性0.0025mg，穩定時間約10S。